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一、產品介紹
UV-A 型紫外輻照計采用 SMT 貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定， 適用性強。紫外輻照計適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
二、產品參數
1、 波長范圍及峰值波長：(以下兩種選其一)
（1）UV-420 探頭：λ：(375～475)nm；λP＝420nm
（2）UV-365 探頭：λ：(320～400)nm；λP＝365nm
2、輻照度測量范圍：(0.1～199.9×103) μW/cm2
3、紫外帶外區雜光： UV420：小于 0.02%
UV365：小于 0.02%
4、相對示值誤差：±8%（相對與 NIM 標準）
5、余弦特性(方向性響應)誤差：±10%
6、線性誤差：±1%
7、換檔誤差：±1%
8、短期不穩定性：±1%（開機 30min 后）
9、疲勞特性：衰減量小于 2%
10、零值誤差：滿量程的±1%
11、響應時間：1 秒
12、使用環境： 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH
13、 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg
14、電源： 常規使用 6F22 型 9V 積層電池一只亦可使用數據線連接 USB 接口、5V 電源適配器供電，整機功耗 ＜0.1VA
三、產品特點
1、光譜及角度特性經嚴格校正
2、數字液晶顯示，帶背光
3、手動/自動量程切換
4、數字輸出接口（USB,冗余供電）
5、低電量提醒
6、自動延時關機
7、有數字保持
8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
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李經理
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